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IEC 62368-1附錄V可觸及零部件測試試具介紹

日期：2025-04-24 21:42

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摘要：深圳市創(chuàng)鑫儀器有限公司IEC 62368-1附錄V可觸及零部件測試試具

IEC 62368-1附錄V可觸及零部件測試試具

EC62368-1:2020音頻、視頻、信息和通信技術(shù)設(shè)備可觸及零部件

Figure V.1兒童可觸及設(shè)備鉸接式試驗試具

Figure V.1直式非鉸接試指

Figure V.2 兒童不可觸及設(shè)備鉸接試驗指

Figure V.2 直式無關(guān)節(jié)試指

Figure V.3 鈍頭試具

Figure V.4 楔形試具

Figure V.5 端子試具

通過使用適用的圖V.1或圖V.2直的無關(guān)節(jié)的試驗試具來進行試驗，施加30N±3N的力，短時間保持大約5S

用直的非鉸接式試具試驗開孔

V.1.3試驗方法2 用直的非鉸接式試具試驗開孔

對能阻止圖V.1或圖V.2的適用的鉸接式試具接觸零部件的開孔要再用直的非鉸接式的相關(guān)試驗試具，施加30N的力來進行試驗。如果非鉸接式試具進入開孔，則要重復(fù)進行試驗方法1的試驗，但要使用任何所需要的不大于30N的力，將相關(guān)的鉸接式試驗試具推入開孔。

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