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環(huán)境可靠性試驗項目與試驗方法及要求

日期：2025-04-25 23:58

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摘要：環(huán)境可靠性試驗項目與試驗方法及要求

一、安規(guī)電容可靠性試驗標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法

GB/T 2123.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法

GB/T 2423.3-1993電工電了產(chǎn)品基木環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法

GB/T 2123.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法

GB/T 6346.14、IEC 60384-14 安規(guī)電容可靠性試驗方法

環(huán)境可靠性試驗方法及要求

常用設(shè)備：恒溫恒濕試驗箱，高低溫試驗箱，UV老化試驗儀，鹽霧試驗箱，熱老化試驗箱

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粵公網(wǎng)安備 44030602001687號

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