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機殼防護等級（IP代碼)試具要求
日期：2025-06-26 14:44
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摘要：機殼防護等級（IP代碼)試具要求
對于低壓設(shè)備的試驗，應在試具與殼內(nèi)危險部件之間串接一指示燈，并供以40 V-50 V的**特低電壓。如果危險的帶電部件表面有一層漆膜或氧化層或有其他類似方法的保護時，試驗時應包覆一層金屬箔，并與正常工作時帶電的部件作電聯(lián)結(jié)。
機殼防護等級（IP代碼)試具要求
對于低壓設(shè)備的試驗，應在試具與殼內(nèi)危險部件之間串接一指示燈，并供以40 V-50 V的**特低電壓。如果危險的帶電部件表面有一層漆膜或氧化層或有其他類似方法的保護時，試驗時應包覆一層金屬箔，并與正常工作時帶電的部件作電聯(lián)結(jié)。
本指示燈電路也可用于高壓設(shè)備的危險運動部件。
如有可能，應使外殼內(nèi)的運動部件緩慢運動。
15.3 接受條件
如果在試具與危險運動部件之間保持足夠的間隙，則試驗合格。
在進行附加字母B的試驗時，鉸接試指可進入外殼80mm的長度，但擋盤(50mmx20mm)不得通過開口。從直線位置開始，試指的兩個鉸接點應繞相鄰面的軸線在90°范圍內(nèi)自由彎曲,應使試指在每一個可能的位置上活動。
在進行附加字母C和D的試驗時，試具可進人其全部長度，但擋盤不得通過開口。詳見附錄A。
