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        技術(shù)文章
        • 溫升測(cè)試角與溫度記錄儀的接線方法 溫升測(cè)試角的接線方法主要涉及以下幾個(gè)方面:?測(cè)試角尺寸與結(jié)構(gòu):?溫升測(cè)試角通常具有三面板結(jié)構(gòu),?尺寸為1m1m1m。?其內(nèi)部結(jié)構(gòu)包括膠合板,?厚度約20mm,?正面涂有無光黑漆,?背面貼有灰色膠片板。?每個(gè)面板...
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-28 23:03 點(diǎn)擊次數(shù):173 次
        • 如何控制手持式IPX34花灑淋雨試驗(yàn)裝置的流量 控制手持式IPX34花灑淋雨試驗(yàn)裝置的流量主要通過調(diào)節(jié)閥門開度來實(shí)現(xiàn)。?在操作手持式花灑淋雨試驗(yàn)裝置進(jìn)行IPX3和IPX4試驗(yàn)時(shí),?流量的控制至關(guān)重要。?IPX3和IPX4是兩種不同的防水等級(jí)測(cè)試,?其中IPX...
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-28 22:56 點(diǎn)擊次數(shù):151 次
        • IPX3淋雨與IPX4濺水的使用方法 IPX3和IPX4淋雨與濺水的使用方法主要區(qū)別在于噴水方式和角度。?IPX3淋雨試驗(yàn)方法涉及將噴水孔設(shè)置在擺管中點(diǎn)兩邊各60°的弧段內(nèi),?被試外殼放置在擺管半圓中間點(diǎn)。?擺管沿垂線兩邊各擺動(dòng)60°,?每次擺動(dòng)約...
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-28 22:49 點(diǎn)擊次數(shù):179 次
        • 抗電強(qiáng)度試驗(yàn)裝置的操作方法 抗電強(qiáng)度試驗(yàn)裝置的使用方法主要包括以下幾個(gè)步驟:?技術(shù)參數(shù)準(zhǔn)備:?確保了解并遵循特定的技術(shù)參數(shù),?如試驗(yàn)針的重量(?50g、?100g)?、?直徑(?5mm、?6.8mm)?,?以及支撐針桿的直徑等。?這些參數(shù)...
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-28 22:41 點(diǎn)擊次數(shù):201 次
        • 充電樁IP防塵試驗(yàn)要求與測(cè)試方法 對(duì)防塵、防固體異物進(jìn)入外殼內(nèi)的防護(hù)對(duì)防塵、防固體異物進(jìn)入外殼內(nèi)部的防護(hù)等級(jí)由**位特征數(shù)字規(guī)定。
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-27 20:33 點(diǎn)擊次數(shù):169 次
        • 充電樁外殼IIP防護(hù)試驗(yàn)要求與測(cè)試方法 對(duì)人體觸及外殼內(nèi)的危險(xiǎn)部件的防護(hù)試驗(yàn)對(duì)人體觸及低壓設(shè)備(額定電壓不超過:交流1kV,直流1.5kV)外殼內(nèi)的危險(xiǎn)部件的防護(hù)等級(jí)由**位特征數(shù)字和補(bǔ)充字母規(guī)定。
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-27 20:29 點(diǎn)擊次數(shù):154 次
        • 充電樁IP防水試驗(yàn)要求與測(cè)試方法 對(duì)水進(jìn)入外殼內(nèi)對(duì)設(shè)備造成有害影響的防護(hù) 對(duì)水進(jìn)入外殼的防護(hù)的等級(jí)由**位特征數(shù)字規(guī)定。
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-27 20:24 點(diǎn)擊次數(shù):184 次
        • 插頭壓縮測(cè)試裝置與熱壓縮試驗(yàn)裝置的區(qū)別與應(yīng)用 插頭壓縮試驗(yàn)裝置產(chǎn)品概述:壓縮試驗(yàn)裝置符合滿足GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)中第24.6條款及圖8a規(guī)格所示要求,適用于對(duì)插頭進(jìn)行承受壓力的試驗(yàn)。試驗(yàn)時(shí)應(yīng)保持溫度在23±2°C進(jìn)行,在插座兩個(gè)位置施加300...
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-26 20:36 點(diǎn)擊次數(shù):142 次
        • 晶振測(cè)試儀與鐘表誤差測(cè)試的的區(qū)別 JC-3195A晶體阻抗計(jì)是用于測(cè)量石英晶體串聯(lián)諧振電阻Rr、串聯(lián)諧振頻率fs、負(fù)載諧振頻率fL和負(fù)載諧振電阻RL,機(jī)內(nèi)帶可調(diào)負(fù)載電容12.5pF~50pF,且等效電阻和諧振頻率直接讀數(shù),激勵(lì)功率可調(diào)(。測(cè)量插...
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-26 20:15 點(diǎn)擊次數(shù):121 次
        • 楔形試驗(yàn)指符合標(biāo)準(zhǔn)與應(yīng)用 楔形試驗(yàn)指(碎紙機(jī)試驗(yàn)指)滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):根據(jù)GB4943.1-2022圖V.4,IEC60950-1AMEND.1,IEC62368-1FigureV.4及UL90950等相應(yīng)條款制作而成。是進(jìn)行家用和類似用途...
          發(fā)布時(shí)間:2024-07-26 20:04 點(diǎn)擊次數(shù):146 次
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